Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Add a new term

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

citlivosť

Semiconductors; Test equipment

Opatrenie minimálne zmeny vstupného signálu, ktorý dokáže detekovať nástroj.

Go/no-go testu

Semiconductors; Test equipment

Test s minimálnym a maximálnym limitom, ktorý zastaví na prvej chyby bez vykonania akýchkoľvek diagnostika, charakterizácia alebo skutočnými meraniami okrem obmedzenie kontroly.

vlastný test pomocou MISR a paralelné SRSG (PNE)

Semiconductors; Test equipment

PNE je spoločné BIST architektúru, ktorá kombinuje PRPG (alebo viacnásobné SRSGs), viacnásobné skenovanie reťazcov a MISR.

Pojem odkaz na konkrétnu chybu (s); fyzikálne alebo chemické nedokonalosť, vyrábaných zariadení. Väčšina chýb možno zistiť a merať skupinou Analýza porúch. Špecifické zariadenia, ktoré nevykonávajú ...

drez napätia (aktívneho zaťaženia)

Semiconductors; Test equipment

Koncové napätie pri DUT pôsobí ako aktuálne drez.

zdroj napätia (aktívneho zaťaženia)

Semiconductors; Test equipment

Koncové napätie pri DUT pôsobí ako aktuálny zdroj.

prevádzkové skúšky lokalít

Semiconductors; Test equipment

Testovacích miest na čiastkovej skúšky hlavou deklarované na testovací program. To uisťuje, že testovacie miesto je rozbité zásuvka usableÑno, kanál beží existujú. Prevádzkovateľ môže vyhlásiť ...